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DiaInspect-OSM超硬磨料图像自动分析系统
DiaInspect-OSM超硬磨料图像自动分析系统
DiaInspect OSM是一种数字显微镜，用于工业金刚石和其他磨料的尺寸和形状分析。这种高分辨率的电动显微镜适用于从微米到锯片粒度的各种粒度。
主要特点：
●每个参数的直方图，每个参数组合的散点图
●所有参数组合示意图
●虚拟排序（2D和3D）
●具有多聚焦功能的深聚焦图像
●孔隙度扫描模块
●曲面和3D三维扫描模式
●一键式报告生成
●一键式数据传输至EXCEL结果表
●真实粒子、图像和被测参数之间的交互连接
DiaInspect OSM是一种自动控制显微镜，门用于磨料和工具的尺寸、形状和分段分析。它涵盖了从微米到粗砂的整个粒度范围。
操作原理：
一定数量的颗粒必须分散到玻璃板上。当检查粒径为几微米的颗粒时，建议湿敷粉末。玻璃板通过XY台在扫描运动中移动。阵列大小将根据实际放大级别自动选择。图像采集部分从玻璃板的每个部分获取并分析连续图像，因此可以以高图像分辨率检测大量单个粒子。
技术数据：
电源：110-230伏交流电。
测量范围
粒度：1µm…3mm
扫描范围：76 x 52毫米（XY-stage）
处理时间：约15分钟（制备和测试2000个粒度为50µm的颗粒）
系统要求：
PC Windows 7 x64或Windows 8 x64
所需：1x USB 3.0端口；1x USB 2.0
CPU核心数：>=2
CPU时钟：>=2GHZ
内存：8GB
监视器：2x>=22英寸（>=1680x1050）
计算参数：
每个粒子计算了20多个参数
- 小feret直径
- 大feret直径
- 圆当量粒径
- 总面积
- 周长
- 凸周长
- 惯性矩
- 费雷特伸长
- 密实度
- 粗糙度
- 椭圆度
- “透明”显示区域的百分比
- “透明”显示区域的相对亮度
- CIE L*a*b系统中的颜色坐标
硬件：
该系统的主要部分是5级放大的显微镜、数控照明装置和高品质的数字工业摄像机。显微镜配有电机驱动的Z轴和电机驱动的X轴和Y轴机械分级设备。所有轴由操纵杆或直接由控制程序控制。摄像机通过USB3连接到图像采集系统，采集系统可以通过软件进行图像处理。
软件：
系统操作由一个易于操作的程序界面控制，该界面在普通PC机上运行。
报告：
控制程序生成打印报告，其中包含每个参数的统计结果以及直方图和密度图。对于采集数据的科学工作，传递函数会将所有粒子的每个数字复制到EXCEL工作簿中。
特色：
控制程序显示一个数据网格，其中一行包含单个粒子的参数。只需单击任意一行，所述粒子的图片就会显示在显示器上。因此，粒子图像和数字之间的相关性更容易理解，这些数字在数字上描述了粒子的外观。
一个特殊的附加组件是虚拟分拣设备。它允许对检查的粒子应用虚拟排序过程：排序范围可以通过上述两个参数的随机数组指定。密度图显示了粒子沿选定参数的分布。在哪个框中，程序必须将粒子放置在密度图的某个区域内，只需拖动鼠标即可指定。在“排序”之后，程序会显示每个框中的粒子数量，并为每个框生成一张图片，显示现在在框中的粒子。
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