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DiaInspect-OSM超硬磨料图像自动分析系统
DiaInspect-OSM超硬磨料图像自动分析系统
DiaInspect OSM是一种数字显微镜,用于工业金刚石和其他磨料的尺寸和形状分析。这种高分辨率的电动显微镜适用于从微米到锯片粒度的各种粒度。
主要特点:
●每个参数的直方图,每个参数组合的散点图
●所有参数组合示意图
●虚拟排序(2D和3D)
●具有多聚焦功能的深聚焦图像
●孔隙度扫描模块
●曲面和3D三维扫描模式
●一键式报告生成
●一键式数据传输至EXCEL结果表
●真实粒子、图像和被测参数之间的交互连接
DiaInspect OSM是一种自动控制显微镜,门用于磨料和工具的尺寸、形状和分段分析。它涵盖了从微米到粗砂的整个粒度范围。
操作原理:
一定数量的颗粒必须分散到玻璃板上。当检查粒径为几微米的颗粒时,建议湿敷粉末。玻璃板通过XY台在扫描运动中移动。阵列大小将根据实际放大级别自动选择。图像采集部分从玻璃板的每个部分获取并分析连续图像,因此可以以高图像分辨率检测大量单个粒子。
技术数据:
电源:110-230伏交流电。
测量范围
粒度:1µm…3mm
扫描范围:76 x 52毫米(XY-stage)
处理时间:约15分钟(制备和测试2000个粒度为50µm的颗粒)
系统要求:
PC Windows 7 x64或Windows 8 x64
所需:1x USB 3.0端口;1x USB 2.0
CPU核心数:>=2
CPU时钟:>=2GHZ
内存:8GB
监视器:2x>=22英寸(>=1680x1050)
计算参数:
每个粒子计算了20多个参数
- 小feret直径
- 大feret直径
- 圆当量粒径
- 总面积
- 周长
- 凸周长
- 惯性矩
- 费雷特伸长
- 密实度
- 粗糙度
- 椭圆度
- “透明”显示区域的百分比
- “透明”显示区域的相对亮度
- CIE L*a*b系统中的颜色坐标
硬件:
该系统的主要部分是5级放大的显微镜、数控照明装置和高品质的数字工业摄像机。显微镜配有电机驱动的Z轴和电机驱动的X轴和Y轴机械分级设备。所有轴由操纵杆或直接由控制程序控制。摄像机通过USB3连接到图像采集系统,采集系统可以通过软件进行图像处理。
软件:
系统操作由一个易于操作的程序界面控制,该界面在普通PC机上运行。
报告:
控制程序生成打印报告,其中包含每个参数的统计结果以及直方图和密度图。对于采集数据的科学工作,传递函数会将所有粒子的每个数字复制到EXCEL工作簿中。
特色:
控制程序显示一个数据网格,其中一行包含单个粒子的参数。只需单击任意一行,所述粒子的图片就会显示在显示器上。因此,粒子图像和数字之间的相关性更容易理解,这些数字在数字上描述了粒子的外观。
一个特殊的附加组件是虚拟分拣设备。它允许对检查的粒子应用虚拟排序过程:排序范围可以通过上述两个参数的随机数组指定。密度图显示了粒子沿选定参数的分布。在哪个框中,程序必须将粒子放置在密度图的某个区域内,只需拖动鼠标即可指定。在“排序”之后,程序会显示每个框中的粒子数量,并为每个框生成一张图片,显示现在在框中的粒子。
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