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DiaInspect-OSM形态分析系统

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DiaInspect-OSM形态分析系统

型 号 DiaInspect-OSM 品 牌 Volstaedt 产 地 德国
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产品描述

DiaInspect-OSM 金刚石形态分析检测系统

 

 

DiaInspect OSM是一种数字显微镜,用于工业金刚石和其他磨料的尺寸和形状分析。这种高分辨率的电动显微镜适用于从微米到锯片粒度的各种粒度。

 

主要特点:

 

●每个参数的直方图,每个参数组合的散点图

 

●所有参数组合示意图

 

●虚拟排序(2D3D

 

●具有多聚焦功能的深聚焦图像

 

●孔隙度扫描模块

 

●曲面和3D三维扫描模式

 

●一键式报告生成

 

●一键式数据传输至EXCEL结果表

 

●真实粒子、图像和被测参数之间的交互连接

 

 

 

DiaInspect OSM是一种自动控制显微镜,门用于磨料和工具的尺寸、形状和分段分析。它涵盖了从微米到粗砂的整个粒度范围。

 

 

操作原理

 

一定数量的颗粒必须分散到玻璃板上。当检查粒径为几微米的颗粒时,建议湿敷粉末。玻璃板通过XY台在扫描运动中移动。阵列大小将根据实际放大级别自动选择。图像采集部分从玻璃板的每个部分获取并分析连续图像,因此可以以高图像分辨率检测大量单个粒子。

 

 

技术数据:

 

电源:110-230伏交流电。

 

测量范围

 

粒度:1µm3mm

 

扫描范围:76 x 52毫米(XY-stage

 

处理时间:约15分钟(制备和测试2000个粒度为50µm的颗粒)

 

系统要求:

 

PC Windows 7 x64Windows 8 x64

 

所需:1x USB 3.0端口;1x USB 2.0

 

CPU核心数:>=2

 

CPU时钟:>=2GHZ

 

内存:8GB

 

监视器:2x>=22英寸(>=1680x1050

 

 

计算参数:

 

每个粒子计算了20多个参数

  • feret直径
  • feret直径
  • 圆当量粒径
  • 总面积
  • 周长
  • 凸周长
  • 惯性矩
  • 费雷特伸长
  • 密实度
  • 粗糙度
  • 椭圆度
  • “透明”显示区域的百分比
  • “透明”显示区域的相对亮度
  • CIE L*a*b系统中的颜色坐标

 

 

硬件:

 

该系统的主要部分是5级放大的显微镜、数控照明装置和高品质的数字工业摄像机。显微镜配有电机驱动的Z轴和电机驱动的X轴和Y轴机械分级设备。所有轴由操纵杆或直接由控制程序控制。摄像机通过USB3连接到图像采集系统,采集系统可以通过软件进行图像处理。

 

软件:

 

系统操作由一个易于操作的程序界面控制,该界面在普通PC机上运行。

 

 

报告:

 

控制程序生成打印报告,其中包含每个参数的统计结果以及直方图和密度图。对于采集数据的科学工作,传递函数会将所有粒子的每个数字复制到EXCEL工作簿中。

 

特色:

 

控制程序显示一个数据网格,其中一行包含单个粒子的参数。只需单击任意一行,所述粒子的图片就会显示在显示器上。因此,粒子图像和数字之间的相关性更容易理解,这些数字在数字上描述了粒子的外观。

 

一个特殊的附加组件是虚拟分拣设备。它允许对检查的粒子应用虚拟排序过程:排序范围可以通过上述两个参数的随机数组指定。密度图显示了粒子沿选定参数的分布。在哪个框中,程序必须将粒子放置在密度图的某个区域内,只需拖动鼠标即可指定。在“排序”之后,程序会显示每个框中的粒子数量,并为每个框生成一张图片,显示现在在框中的粒子。

未找到相应参数组,请于后台属性模板中添加

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