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DiaInspect-P 金刚石自动粒子分析仪
DiaInspect-P 金刚石自动粒子分析仪
DiaInspect-P 自动粒子分析仪
DiaInspect-P是一种自动颗粒分析仪，门用于磨料的等级尺寸和形状分析。
硬件：
该系统的主要部分是具有2个放大步骤的显微镜、数字控制照明和高质量的数字工业摄像机。该显微镜配有电机驱动的旋转轴和自动颗粒输送系统。进料器和旋转轴由控制程序控制。摄像机通过firewire连接到图像采集系统，从而使图像处理软件可以使用图像。
软件：
系统操作由一个易于操作的程序界面控制，该界面在普通PC机上运行。
操作原则：
粒子在旋转的平板上移动到显微镜中。分析后，将颗粒吹入收集箱。图像采集系统收集并分析每个已识别粒子的相应图像，以便能够检测到大量单个粒子。粒度为400µm时，每分钟多可分析5000个颗粒。测量完成后，将自动生成报告。
特色：
- 一键式报告生成
- 一键式数据传输至EXCEL
- 每个参数的直方图，
- 每个参数组合的散射图
技术数据：
- 电源：110-240伏交流电
- 放大倍数
- 镜头1:8.8µm（像素宽度）2889 dpi
- 镜头2:3.7µm（像素宽度）6904dpi
- 测量范围
- 粒度：230/270-8/10美国筛孔
- 处理时间：约2-3分钟（5000个颗粒的制备和测试，尺寸400µm）
- 系统要求：
- 带Windows 7或XP 32位（DE或EN）的PC
- 1x USB 2.0端口
- 1x PCI Express
- CPU-CORE : >=2
- CPU-CLOCK : >= 2.5GHZ
- 内存：>=2GB
- 监视器：>=22”（1680x1050）
计算参数：
每个粒子计算了20多个参数。
- 小feret直径
- 大feret直径
- 圆当量粒径
- 总面积
- 周长
- 凸周长
- 惯性矩
- 费雷特伸长
- 密实度
- 粗糙度
- 椭圆度
- “透明”显示区域的百分比
- “透明”显示区域的相对亮度
- CIE L*a*b系统中的颜色坐标
数据输出：
软件保存一个EXCEL文件，其中包含每个测试粒子的结果。每个产品的第二个文件存储20个参数的分布曲线。
QC-功能：
测试批次的参数分布将自动与产品的公差带进行比较。
报告：
打印的报告将自动生成。
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