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企业:北京冠远科技有限公司

J200飞秒激光剥蚀进样系统

数量
-
+
型 号
J200 LA
品 牌
Applied Spectra
产 地
美国
没有此类产品
产品描述

J200飞秒激光剥蚀进样系统

J200 Femtosecond Laser Ablation (LA) 

LA-ICP-MS 的量子级飞跃
       J200LA-fs飞秒激光剥蚀进样系统是LA-ICP-MS技术向高精度、高准确度、高灵敏度水平发展的重大突破。J200LA-fs确保元素和同位素不分解的情况下,均匀剥蚀样品成透明状,这意味着剥蚀的颗粒能真实地代表样品的化学特性,这是采用长脉冲激光技术无法达到的。

 

 
LA-ICP-MS 的量子级飞跃

       J200LA-fs飞秒激光剥蚀进样系统是LA-ICP-MS技术向高精度、高准确度、高灵敏度水平发展的重大突破。J200LA-fs确保元素和同位素不分解的情况下,均匀剥蚀样品成透明状,这意味着剥蚀的颗粒能真实地代表样品的化学特性,这是采用长脉冲激光技术无法达到的。
 
减少样品的依赖性,比雾化技术精度高

       J200LA-fs系列剥蚀样品精度高,且没有热效应。而采用长激光脉冲的系统,会发生的多种热过程,改变剥蚀样品的数量和化学成分,如改变热特性等;并且无论采用什么波长,如266nm, 213nm 或193nm, 为了准确定量的分析元素和同位素,需要高精度的、与测量样品相匹配的标准物质。

 

       J200LA-fs剥蚀均匀一致,剥蚀的样品颗粒能代表样品的化学特性,无需高度匹配的标准物质,也能进行高精度、定量LA-ICP-MS测量。
 
均匀一致的粒径确保高精度、高灵敏度测量

       长激光脉冲系统产生的样品颗粒大(常大于数微米),驻留在输送管中,导致运输效率低,并且降低了分析的灵敏度。大样品颗粒还会在ICP-MS的瞬时信号中产生峰值,导致测量精度降低。J200系统产生的样品颗粒均匀一致,且尺寸分布合理,一般在10-200nm,运输效率高。这些到达ICP源的颗粒能完全被消解,产生稳健、恒定的瞬时ICP-MS信号。用户可完全依靠J200系统输送高质量的样品颗粒到ICP-MS 系统。

 

 
元素和同位素的分馏少

       在LA-ICP-MS测量过程中引起元素或同位素分馏的两大主要过程:(1)非化学计量物质剥蚀的热过程;(2)大样品颗粒在ICP源不完全消解。J200施加高能激光的时间比长脉冲系统短,短达1/10000。J200LA-fs系统通过非热过程,施加超高激光辐射剥蚀样品,产生的颗粒能在ICP源完全消解,确保在测量过程中获取高精度、稳定的元素或同位素信号。

 

高精度元素和同位素测量的保障
       ASI公司的技术团队拥有30多年激光剥蚀技术的基础研究经验和LA-ICP-MS方法的研究背景,也是在LA-ICP-MS系统中采用飞秒激光脉冲,并实现其卓越性能的公司。J200LA-fs系统能完成具挑战性的化学分析工作。来自ASI公司严谨的科研和技术支持是其它技术无法达到的。

 


强大的∫ Integra软件与ICP-MS仪器协同操作
       ∫ Integra软件让用户通过基本单元“处方”来制定各个硬件工作的时间序列命令集,并通过串联多个“处方”,让系统自动完成各个测量工作。

硬件控制简单、方便
       ∫ Integra软件使J200LA-fs用户简单、方便地操作硬件部件。只需简单点击tab键,用户即可检查飞秒激光、气流系统、光模块、3-D操作台、自动高度调节传感器、样品室等部件的工作状态,不同用户组可赋予不同的使用权限。
 
获取勾边样品图像,制定复杂的激光采样模式

       ∫ Integra 软件提供大的视频窗口,显示勾边的、详细的样品图像。用户在样品图像上可任意编辑激光采样模式,包括光栅线状、曲线、随机点、任意尺寸网格或预先编制的模式。即使是形状怪异的结构,采用∫ Integra的模式工具也可选定,并分析其元素或同位素。
 
双照相系统扫描样品

       J200LA-fs 的两个相机提供广角和放大的样品图像。∫ Integra允许用户先获取样品的广角图像,然后在图像上扫视不同的位置,高倍放大选定点。
 
智能气流控制,大限度地获取ICP-MS等离子体的稳定性和分析性能

       ∫ Integra具备智能输送和补充气控制功能,使每种气体按预定的方式达到设定值,同步开关确保稳定的ICP-MS等离子体状态,防止等离子体火焰喷出。预设阀配置可选择氩气或氦气作为载气或缓冲气。
 
“处方”功能让系统自动运行

       用户可将多个硬件部件运行命令集合,并按时间顺序排列,形成∫ Integra“处方”。制定完成的处方,以后也可以调用。多个处方可编制成组,自动顺序执行,使测量工作高度自动化。
可简单采用“recall”命令调用“处方”,重复实验,也可复制部分“处方”,结合新的命令,完成新的采样过程。

主要技术指标

激光器 工业级高频Ytterbium diode飞秒激光器,343 nm和1030 nm,频率可调,大10KHz
能量控制 连续可调光学衰减器,集成激光能量监测单元
激光光闸 自动光闸保证激光能量稳定
激光脉冲能量(激光头输出) 大150μJ/脉冲 @ 343 nm* ,大 1mJ/脉冲 @ 1030 nm
激光光斑大小控制 3-70微米,结合了自动光束扩展器和狭缝成像
光斑大小范围取决于不同设备的型号,可用户自定义光斑大小范围
自动X-Y轴 100 mm X 100 mm 行程范围,分辨率0.2微米
自动Z轴 35mm行程范围,Z轴可以实现样品自动高度调整,分辨率0.5微米
剥蚀点定位 红色激光具有更好的信号精度,ASI的自动对焦专利技术
样品图像 高分辨率的双CMOS镜头,用于高倍放大和大视野预览,支持光学变焦
样品成像光源 泛光LED灯,同轴反射光和透明光源,正交十字光
气体控制 双路数字流量控制器,可选第三个流量控制器(用于氮气或其他气体)
电控两向和三向阀,ASI专利气体控制单元
样品室 Flex™ 样品室具有系列可更换的垫片,适合不同大小的样品
Vertex™样品室具有快速冲洗效率和大量样品的运送能力
可用户自定义样品固定装置,ASI专利LIBS测量兼容性
与ICP-MS通讯 在J200和ICP-MS之间实现双向控制
LIBS检测器
 (仅适用于Tandem系统)
Czerny Turner光谱仪 / ICCD检测器
仪器软件 Axiom LA系统操作软件,ASI专利的TruLIBS™发射光谱数据库(用于Tandem系统)
Clarity Femto数据处理软件(处理LA-ICP-MS和LIBS的数据,进行定量计算/物质分类)
激光安全等级 一级激光产品,样品加载区域有光学安全隔离板,激光自锁保护装置
系统尺寸 70” (长) X 26” (深) X 30” (高) [178cm(长) X 66cm(深) X 76cm(高)] (仅LA主机)
75” (长) X 26” (深) X 30” (高) [191cm(长) X 66cm(深) X 76cm(高)] (Tandem+LIBS检测器)
重量 600 lbs [272Kg](仅LA主机);600-650lbs[272-295Kg](Tandem+LIBS检测器)
供电要求 110-240 VAC,50/60 Hz, 5A, 保险10A
质保 所有硬件和软件质保一年,飞秒激光器质保两年
认证 CE认证
可选项 LA升级为Tandem系统
延保 可签署多年质保和服务协议

* 通常作用在样品表面的激光能量大约是20-80 μJ
 
应用案例
植物样品表层及深层元素分布
       采用飞秒LA-ICP-MS系统还可以对植物叶片进行深度的剖析。测量叶片内部不同部位的元素变化情况以及特定元素的分布情况。实验使用飞秒激光器,10个脉冲,脉冲1至脉冲10表示叶片的表层至内部。


 
大米和糙米样品外壳及内部砷元素的分布图谱

       大米是中国、韩国和日本等东亚诸国的主要农作物,大米中砷元素含量超标引发了很多食品安全问题。国际食品法典委员会标准中也明确规定铅含量不得大于0.2mg/kg ,镉含量不得大于0.1mg/kg,但仍然对砷元素含量无规定。为了建立相关标准,韩国科学技术研究院搜集了韩国市场上常见的100种大米和糙米样品,分析其中砷元素的含量及分布作为相关标准制定的科学依据。研究结果表明,砷元素主要分布在糙米和大米样品的表面,并存在砷元素含量明显的向中心递减趋势。结论:砷元素主要分布在大米和糙米的表面,打磨是降低砷元素含量的主要手段。

 
产地:美国

 

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