TriStar II 3020系列高性能多通道全自动比表面积与孔隙度分析仪

　　用　　途：

　　药品、陶瓷、活性炭、碳黑、油漆和涂料、催化剂、推进燃料、医用植入体、化妆品、电子产品、碳纳米管、燃料电池、航空领域隔热层以及绝热材料的比表面以及孔隙度的测定。

　　TriStar II 3020是全自动三站式比表面积和孔隙度分析仪，能够提高质量控制分析的检测速度，并提供高精度、高分辨率和数据处理功能以满足绝大多数研发的需要。

　　技术特点

　　· 同时和独立分析三个样品 - 三个BET表面积分析时间少于20分钟

　　· 标配一个专用的饱和压力接口，可选多种规格杜瓦瓶以及样品管

　　· 可升级成高真空系统，用于低比表面积以及微孔的测试

　　· 可以测定、计算或手动输入自由空间

　　· 可以使用任何气体，死体积测试可以不使用氦气

　　· 可选满足FDA的要求的Confirm 21 CFR Part 11的软件。 IQ和OQ认证服务，确保该系统的准确性、可靠性和一致性。这些服务保障了分析记录的完整性

　　· 仪器配置了液氮液面保持装置---液氮等温夹，以确保整个分析过程中等温夹套以下的温度恒定

　　· 仪器可同时进行三个样品的分析，满足测试量大的用户，不是多个工作站的"排队分析"，每个分析站都配有独立的传感器，保证三个分析站分析的同时进行

　　· 配备了大容量杜瓦瓶，结合专利的液氮等温夹，保证至少60小时无人介入操作。最大无上限的连续分析

　　· 仪器软件包含了目前所有的数据处理方法:

　　单点和多点BET比表面积，Langmuir比表面积

　　Temkin and Freundlich等温线分析

　　多种厚度层公示计算的BJH中孔和大孔的孔体积、孔面积对孔径的分布

　　孔体积和用户指定孔径范围内的总孔体积

　　MP法的微孔孔径分布和t-plots、αs-plots得到的微孔总孔体积

　　f-Ratio plots，D-R，D-A

　　H-K法(包括Cheng & Yang校正，Saito & Foley校正)

　　DFT密度函数理论，包括NLDFT等

　　产品应用

　　借助于气体吸附原理(典型为氮气)可进行等温吸附和脱附分析，用于确定比表面积、微孔孔体积和孔面积、中孔体积和面积、总孔体积等。

　　适用于各种材料的研究与产品测试，包括测量沸石、碳材料、分子筛、二氧化硅、氧化铝、土壤、黏土、有机金属化合物骨架结构等各种材料。