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TriStar II 3020系列高性能多通道全自动比表面积与孔隙度分析仪

数量
-
+
型 号
TriStar II 3020
品 牌
美国麦克默瑞提克
产 地
没有此类产品
产品描述

  用  途:

  药品、陶瓷、活性炭、碳黑、油漆和涂料、催化剂、推进燃料、医用植入体、化妆品、电子产品、碳纳米管、燃料电池、航空领域隔热层以及绝热材料的比表面以及孔隙度的测定。

  TriStar II 3020是全自动三站式比表面积和孔隙度分析仪,能够提高质量控制分析的检测速度,并提供高精度、高分辨率和数据处理功能以满足绝大多数研发的需要。

  技术特点

  · 同时和独立分析三个样品 - 三个BET表面积分析时间少于20分钟

  · 标配一个专用的饱和压力接口,可选多种规格杜瓦瓶以及样品管

  · 可升级成高真空系统,用于低比表面积以及微孔的测试

  · 可以测定、计算或手动输入自由空间

  · 可以使用任何气体,死体积测试可以不使用氦气

  · 可选满足FDA的要求的Confirm 21 CFR Part 11的软件。 IQ和OQ认证服务,确保该系统的准确性、可靠性和一致性。这些服务保障了分析记录的完整性

  · 仪器配置了液氮液面保持装置---液氮等温夹,以确保整个分析过程中等温夹套以下的温度恒定

  · 仪器可同时进行三个样品的分析,满足测试量大的用户,不是多个工作站的"排队分析",每个分析站都配有独立的传感器,保证三个分析站分析的同时进行

  · 配备了大容量杜瓦瓶,结合专利的液氮等温夹,保证至少60小时无人介入操作。最大无上限的连续分析

  · 仪器软件包含了目前所有的数据处理方法:

  单点和多点BET比表面积,Langmuir比表面积

  Temkin and Freundlich等温线分析

  多种厚度层公示计算的BJH中孔和大孔的孔体积、孔面积对孔径的分布

  孔体积和用户指定孔径范围内的总孔体积

  MP法的微孔孔径分布和t-plots、αs-plots得到的微孔总孔体积

  f-Ratio plots,D-R,D-A

  H-K法(包括Cheng & Yang校正,Saito & Foley校正)

  DFT密度函数理论,包括NLDFT等

  产品应用

  借助于气体吸附原理(典型为氮气)可进行等温吸附和脱附分析,用于确定比表面积、微孔孔体积和孔面积、中孔体积和面积、总孔体积等。

  适用于各种材料的研究与产品测试,包括测量沸石、碳材料、分子筛、二氧化硅、氧化铝、土壤、黏土、有机金属化合物骨架结构等各种材料。

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