SpectraProbe XE可适应不同的工厂环境，在环境温度10˚-50˚C范围下仍可维持高确度及重复性。大面积测量口径65mm和每秒多大24次测量次数可排除产品因在运输带上跳动而产生对焦不准的错误。SPXE可连续审定线上成品的反射色度均匀性，生产流程控制，生产质量控制及记录流程数据来符合ISO要求。

SpectraProbe XE系统由一台分光探头，挂墙系统控制箱及EasyMatch OL软件包所组成。分光探头固定在特殊设计的支架上，提供移动或定点测色。特殊支架亦可供离线校正及紧急离线之用。

适用样品：不透明固体样品。

适用行业：彩钢、塑料、玻璃等行业。

设备特点

稳固的设计，符合NEMA 4及IP65防爆要求，适用于严苛作业环境。
非接触式测量可避免产生静电及损坏制品。
0˚/45˚光学几何能提供仪器测定的结果与色彩外观表面接近一致。
0˚/45˚光学几何以从测量中反映出产品表面特性。
氙气灯光源，允许进行快速测量。
具自动二次校正功能补偿因环境改变而产生测量误差。
具有自动紫外校正，控制（420nm）功能，增加测量白度的准确性。
取样速度高可达20次/秒，以排除制品因垂直跳动所影响测量度。
能透过长度，时间及其它计量方法输入控制取样时隔。
可兼容0˚/45˚或45˚/0˚光学几何仪器。
备有定点及游动式功能。
高游动速度可达125cm/秒返回零点位置，避免制品断裂时损坏仪器。

技术参数

双光束0˚/45˚光学扣除镜面反射几何设计。
园环形氙灯，过滤模拟D65光源
400-700nm波长范围，10nm波长报告间隔。
衍射光栅分光，256组半导体检测点。
有效等三角波长带宽为12nm
波长分析度小于3nm
测量光度范围为0至150%。
测量光度分析度为0.01%（报告）。
65mm测量直径。
色值重现性小于0.02dE* CIELab,20次白板读数。
波长重现性在420-680nm间小于0.10%，白板读数。
波长重现性在400-420nm间小于0.15%，白板读数。
稳定性30分钟后为0.05 L*a*b* 峰值，4小时后为0.15 L*a*b* 峰值
快测量速度为0.05秒一次及数据更新一秒钟一次。
氙灯寿命为一千万次以上。
采用在线二次标准版校正。
产品测量距离为12.7至25.4mm+/-6.35mm
分光探头高移动速度为每秒125cm
机盒设计符合NEMA 4/IP 65 规格。
可利用RS232或RS422模式连接电脑。
可配HunterLab的EasyMatch-OL在线质检软件包。
操作电压为120-220VAC,48-62Hz,5.5Amp.;干燥及清洁压缩气气压80psig,2cfm
操作环境温度0-50˚C（无冷凝）。

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HunterLab颜色测量管理ColorTrend HT在线测色系统

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HunterLab颜色测量管理SpectraProbe XE在线测色系统

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