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J200 Femto iX LA 激光烧蚀（LA）
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产品编号
所属分类
J200激光剥蚀激光诱导
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产品描述
J200 Femto iX LA 激光烧蚀（LA）系统
J200 Femto iX激光烧蚀（LA）仪器
200 Femto iX LA仪器代表了基于上紧凑的台式设计的超快激光采样技术的新技术。该仪器是高度成功和久经考验的J200 Femto LA仪器的下一步发展，J200 Femto LA仪器在上拥有大的安装量。
J200 Femto iX的核心是紧凑而坚固的激光源，可从Applied Spectra获得。J200 Femto iX具有先进的硬件设计，包括智能运输气体控制，自动样品高度调节，高分辨率3D样品台，创新的样品池和LIBS（激光诱导击穿光谱）附加功能，是具创新性的飞秒可以解决苛刻的LA-ICP-MS分析的LA仪器。该仪器还配有业界的数据分析软件Clarity Femto，可进行有效的时间分辨ICP-MS信号处理，简单的定量分析，2D / 3D元素成像和样品取证。
J200 Femto iX LA仪器的亮点：
- 高度，准确度和灵敏度
- 紧凑的台式设计
- 负担得起的费用
- 维护成本低
- 紧凑型高重复率飞秒激光器
- 智能运输气体控制
- 自动调整样品高度
- 高分辨率3D样品台
- 创新的样品池
- 串联LA-ICP-MS和LIBS分析的LIBS（激光诱导击穿光谱）附加功能
应用须知
使用J200 LA仪器实现超灵敏电感耦合等离子体质谱（LA-ICP-MS）分析：玻璃样品研究
Applied Spectra Inc.的J200 LA仪器与ICP-MS连接以建立品质因数。分析了NIST玻璃SRM（玻璃中的痕量元素）以确定可以检测的质量并确定检测限（LOD）。
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