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日本理学Rigaku下照式X射线荧光光谱仪

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日本理学Rigaku下照式X射线荧光光谱仪

型 号 日本理学Rigaku 品 牌 理学 产 地 日本
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产品描述

技术参数:

分析对象:4Be-92U 
分光系统:波长色散式 
X射线发生部 
X射线管:端窗式Rh靶 4kW或3kW 
高压发生器:高频变频器方式 
额定电压,电流:4kW,60kV-150mA 
稳定度: 正负0.005%(对于正负10%输入变动) 
冷却水:水冷冷却水(内置) 
分光部 
样品交换机:从12,24,36,48样品4种中选择一种 
样品尺寸:51mmx30mm(H) 
分析样品面:大35mm 
样品旋转:30rpm 
1次X射线滤波片:4种(Al,Ti,Cu,Zr) 
视野限制光阑:6种自动交换机构(35,30,20,10,1,0.5) 
发散狭缝:3种自动交换机构(标准分辨率,高分辨率,超轻元素用(选件) 
接受狭缝:SC用,F-PC用 
测角仪:独立驱动 
测角范围:SC5-118度 F-PC:13-148度 
大扫描速度:1400度/min 
连续扫描:0.1-240度/min 
晶体交换:10晶体交换 
分光晶体:标准:liF(200),Ge,PET,RX25 选件:LiF(220),RX4,RX9,RX40,RX45,RX61,RX75,RX80,RX61F,TAP 
真空:双真空室(双真空泵),粉末样品附件(选件) 
氦气置换机构:带隔板 
恒温化机构:36.5度 
记数.控制部:重元素用:SC,记数线性:1000kcps,轻元素用,芯线加热自动清洗 
衰减器:IN-OUT自动切换 
硬件:计算机:windouws PC 
软件:定性分析(自动鉴定解析功能(平滑,扣背景) 
定量分析:检量线法JIS法,各种基体校正,无标样分析法)EZ扫描,应用模板, 
样品径自动选择,谱峰分离,定度测试,E-mail传送功能,多功能标准样品 
其它为选件 
维护功能:自动PH调整(PAS),全自动芯线清洗,自动老化,自动诊断,远程诊断



主要特点:

硬件: 
采用新光学系统 
1新型分光晶体,大幅度提高轻元素的灵敏度. 
超轻元素对应的X射线光管(4kW,30薄窗) 
48样品交换器 
1次滤波片 
双真空,双泵 
粉末附件,防止污染真空泵 
定点分析:小直径500,MAPPING分辨率100 
节省空间,节能 
软件 
新的SQX软件 
委托分析EZ扫描 
定角度测试模式 
应用摸板 
散射线FP法 
流程条 
其他软件 
应用软件包

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