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日本理学Rigaku上照射式 X射线荧光光谱仪

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日本理学Rigaku上照射式 X射线荧光光谱仪

型 号 Rigaku 品 牌 理学 产 地 日本
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产品描述

仪器简介:

PrimusII是理学公司新奉献的上照射式X射线荧光光谱仪,因采用了新型分光晶体,使轻元素分析(如C,B)灵敏度大幅度提高.超轻元素对应X射线光管,大功率4千瓦,薄窗,适合轻元素分析 
48样品台,节省空间.1次滤波片,可去掉来自光管的特征谱线,减低背景.双真空,双泵设计,节省抽真空时间.防粉尘附件,可防止粉末掉入真空泵.微区分析可达500.适合少量样品分析. 
软件在原有的SQX软件基础上进一步完善,采用对话方式,进行EZ扫描.应用模板,可将各种测试条件,以及前处理顺序设置其中.FP无标样分析,是理学公司多年来总结出的一套很好的分析方法,不设定测试成分也能准确分析.流程条,按顺序显示测试处理内容.标准样品,操作手册全中文提供,方便中国用户. 
维修保养:PAS自动调整,芯线自动清洗.给用户带来方便.



技术参数:

硬件: 
对应超轻元素的X射线光管 
采用4kW、30µm薄窗X射线光管,可高灵敏度测试超轻元素。 
采用新型光学系统 
采用新型分光晶体,与第二代仪器分光晶体相比,大幅度提高了灵敏度。 

48样品交换器 
实现平台式共享化,多可放置48个样品。 
多样品交换器实现了省空间。 

1次X射线滤光片 
除去X射线光管的特征X射线光谱, 
在减低背景干扰方面发挥威力。 

双泵、双真空系统 
采用双真空系统(样品室/预抽真空室)。 
防止粉末样品的细微粉尘混入光学系统 
的结构设计,样品交换实现更率。 

粉末附件 
电磁阀真空密封、防止细微粉尘进入 
真空泵内。 

定点分析 
100µm的Mapping分辨率。可在CCD图像 
上指定点、区域、线。定点小直径500µm。 

采用r-θ样品台,避免1次X射线的照射面、以及分光晶体的反射强度的干扰,可得到佳灵敏度分析结果。 (无 r-θ 样品台) 
节能、节省空间 
节能功能(自动减少X射线光管输出) 减少冷却水量 5L/min(水温30以下) 
PR气体流量减少(5mL/min) 
省空间 
采用联体设计,设置面积只占传统仪器70%的空间。 
便于维护 
PAS脉冲高度自动调整 F-PC芯线自动清洗 

软件 
新版SQX软件 
在RIGAKU的基本参数法技术的基础上SQX(Scan Quant X),追加了新功能。 
委托分析EZ扫描 
采用对话框形式设定,可进行SQX分析。 
定角测试模式 
微量元素,采用谱峰和扣背景以一定时间记数方法,使用抑制统计变动的X射线强度,算出分析值。自动设定每个样品变化扣背景的位置。 

应用模板 
各种测试条件以及样品前处理顺序均设置其中。 

散射线FP法 
不需设定非测试成分,也可以准确分析。散射线强度计算,可以考虑几何学效果,没有样品量信息也可准确分析。不易加压成形的样品以及油状样品,使用SQX软件,可以简单、准确地进行分析。 

流程条 
测试、处理流程显示。根据流程条内容,击鼠标键,便可按顺序进行所需的测试、处理。 

其它特点的软件功能 
 SQX分析功能 
 Mapping数据库 
 材质辨别 
 理论重叠校正 
 自动程序运转 
 校正投入量计算 

应用软件包 
应用软件包,设定样品(标准样品、漂移校正样品) 
CD-ROM(测试条件、校正常数等)、操作手册全盘提供。



主要特点:

特点: 
轻元素(B,C)灵敏度大幅度提高 
配备新的、高强度的分光晶体RX-25,RX-61,RX-75 
重金属的高灵敏度分析-采用新型光学系统 
高灵敏度微区分析-Mapping位置分辨率100µm 
优良的无标样分析-的SQX软件 
仪器设计考虑周边环境-节能、省空间

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