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DiaInspect-P 金刚石自动粒子分析仪
DiaInspect-P 金刚石自动粒子分析仪
DiaInspect-P 自动粒子分析仪
DiaInspect-P 是自动颗粒分析仪，专为磨料的粒度分级与外形分析开发。
硬件介绍
系统主要组成：具备两档放大倍率的显微镜、数控照明单元、工业数字相机。显微镜配备电动旋转轴与自动颗粒输送机构。给料装置与旋转轴由控制程序管理。相机通过 Firewire 接口连接图像采集系统，图像处理软件读取采集图像完成分析。
软件介绍
配套软件运行于普通 PC，操作界面简洁，用于整机控制。
操作原理
颗粒随旋转载盘送入显微镜观测区域；分析完成后，颗粒被吹入收集料盒。图像采集系统采集并解析每一个识别颗粒的图像，实现大批量单颗粒检测。粒度 400µm 样品，每分钟最多可分析 5000 个颗粒。检测结束后自动生成检测报告。
特色功能
- 一键生成检测报告
- 一键导出数据至 Excel
- 输出各参数直方图、多参数组合散点图
技术参数
- 供电：110–240V AC
- 放大规格
- 镜头 1：像素宽度 8.8µm，2889 dpi
- 镜头 2：像素宽度 3.7µm，6904 dpi
- 测量粒度范围：230/270 目～8/10 目（美国筛）
- 样品处理时长：约 2–3 分钟（制备并检测 5000 粒 400µm 颗粒）
- PC 系统要求：Windows 7 / XP 32 位（德语 / 英语版本）
- 接口：1×USB2.0、1×PCI Express
- CPU：≥2 核，主频≥2.5GHz
- 内存：≥2GB
- 显示器：≥22 英寸，分辨率 1680×1050
计算参数
单颗粒可计算 20 余项指标：
- 最小 Feret 直径
- 最大 Feret 直径
- 等效圆粒径
- 颗粒总面积
- 周长
- 凸周长
- 惯性矩
- Ferret 伸长率
- 密实度
- 粗糙度
- 椭圆度
- “透明” 区域占比
- “透明” 区域相对亮度
- CIE Lab 色彩坐标
数据输出
软件可保存 Excel 文件，记录每一颗被测颗粒的检测结果；同时单独生成文件，存储该产品 20 项参数的分布曲线。
QC 质量管控功能
测试批次的参数分布，可自动与产品公差区间比对。
报告
可自动生成纸质打印报告。
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